Перейти к основному содержанию

Микроскоп VK-X200 Keyence

Описание

Микроскоп VK-X200 Keyence отличается солидным функционалом, присущим профилометру бесконтактного типа, а также точностью, которая свойственна электронному микроскопу и комфортом в применении, характерным оптическому микроскопу цифрового типа.

Преимущества
  • Позволяет измерить в разрезе радиус, угол, сечение поперечное, ширину или высоту любого профиля.
  • Помогает сопоставлять наложением картинки с измерением отличий объектов.
  • Осуществляет бесконтактное измерение во всех координатах, трехмерное измерение, шероховатости и иные показатели с большой точностью на конкретном участке.
  • Обладает высокой глубиной фокуса, обеспечивает трехмерное изображение и цветные картинки с отличным увеличением.
  • Обеспечен высокий уровень локальности изучения с оставлением рельефа изучаемой поверхности.
  • Не вызывает сложностей в настройке и в применении.
  • Для выполнения обследования не требуется заранее подготавливать объект.
  • Рассчитан на долгий срок службы.

Модель VK-X200

Технические особенности:
  • апохроматические объективы: 150х/0,95; 50х/0,95; 20х; 10х;
  • предельное увеличение: 24000;
  • разрешение: 0,0005мкм;
  • трехмерное моделирование и сравнительный анализ;
  • опция Wide-Scan и C-laser DIC.