Перейти к основному содержанию

Лазерные сканирующие микроскопы Keyence

Лазерные сканирующие микроскопы Keyence разработаны для измерения разных показателей, в том числе толщины и шероховатости поверхности, широкого перечня объектов.

Преимущества
  • Являются трехмерными, что объясняет их высокую эффективность.
  • Повышенная точность и солидная скорость работы.
  • В шестнадцать раз большая область измерений в сравнении с простыми лазерными микроскопами.
  • Позволяют полностью автоматизировать процесс измерения.
  • Имеют несколько рабочих режимов.
  • Обладают значительной глубиной фокуса, обеспечивают трехмерную картинку и цветную картинку с хорошим увеличением.
  • Для проведения исследования не требуется заблаговременно подготавливать объект.
  • Предлагаются в нескольких исполнениях, благодаря чему можно подобрать оптимальное решение для конкретного случая.

VK-X200 Keyence

Совмещает в себе функционал, присущий профилометру бесконтактного типа, а также точность, свойственную электронному микроскопу и удобство в использовании, характерное оптическому микроскопу цифрового типа.

Технические особенности:
  • В разрезе измеряет угол, радиус, сечение поперечное, ширину и высоту профиля.
  • Выполняет бесконтактное и трехмерное измерение, шероховатости и иные показатели с большой точностью на конкретном участке.
  • Обеспечен высокий уровень локальности исследования с сохранением рельефа изучаемой поверхности.

VK-X1000 Keyence

Технические особенности:

Отличается достоинствами профилометра, а также микроскопа сканирующего и оптического типа.

  • Измеряет радиус, шероховатость, сечение поперечное, ширину, а также иные показатели, в том числе определяет толщину пленок бесцветных объектов.
  • Можно получить цветную шестнадцатибитную картинку без потери разрешения.
  • Не имеет вакуумную систему, что обеспечивает легкость в использовании.
  • Позволяет одновременно работать с несколькими крупными по габаритам образцами.
  • Настройка рабочих границ осуществляется в автоматическом режиме.